Кафедра микро- и наноэлектроники НИЯУ МИФИ
Новости кафедры: Кафедра микро- и наноэлектроники предлагает новый прибор для обнаружения альфа-радиации

В настоящее время еще сохраняется возможность техногенных аварий, способных привести к утечке радиоактивных веществ. Поэтому методики оценки радиоактивного загрязнения окружающей среды продолжают оставаться актуальными. В Национальном исследовательском ядерном университете «МИФИ», на кафедре микро- и наноэлектроники, группа ученых разработала уникальный прибор для обнаружения альфа-излучения – дистанционный индикатор альфа-радиоактивных загрязнений «Альфа-А» работает намного эффективнее, чем используемые в настоящее время для этой цели стандартные поисковые приборы, обнаруживающие такие загрязнения, как правило, по сопутствующему гамма-излучению, поскольку непосредственно альфа-частицу можно зарегистрировать лишь на расстоянии не более 3-4 см. 

Наши ученые поставили целью создание высокочувствительного носимого монитора, позволяющего дистанционно (на расстоянии до 0,5 м) обнаружить наличие альфа-активных нуклидов на поверхности любого профиля – например, на различном оборудовании, на одежде, обуви, , на растениях и т. д. 

Разработанный прибор позволяет за 3-5 секунд обследовать загрязненный участок площадью до 0,4 м2, при этом нижний порог измеряемой активности для точечного источника составляет 10 Бк. Точность локализации точечного источника альфа-излучения до 5 см. Эти характеристики значительно лучше чем у стандартных поисковых мониторов.

Используемый в разработанном приборе метод измерения основан на регистрации аэроионов, возникающих в воздухе на следах альфа-частиц, излучаемых альфа-активными нуклидами. С помощью воздушного потока аэроины переносятся в рабочий объем газоразрядного счетчика, открытого на воздух. При этом прибор «Альфа-А» способен обнаруживать альфа-активные нуклиды при высоком фоне сопутствующих излучений (бета и гамма), а небольшая масса детекторного модуля обеспечивает достаточную мобильность устройства.

Прибор может использоваться для оценки радиационной опасности при техногенных авариях, для контроля радиационной обстановки на предприятиях ядерно-энергетического комплекса, для радиационно-экологического мониторинга загрязненных территорий, отходов производства, металлолома и т.д.

 

По материалам mephi.ru

20.01.2016 20:12 • ipontus

Новости
Кафедра микро- и наноэлектроники предлагает новый прибор для обнаружения альфа-радиации ...
 20.01.2016 20:12
Международная студенческая олимпиада «Ядерная физика и ядерные технологии» ...
 06.12.2015 20:55
Зимняя сессия 2015/16 учебного года ...
 06.12.2015 13:18
Все новости
О сайте © 2015 Кафедра микро- и наноэлектроники Национального Исследовательского Ядерного Университета «МИФИ»
115409, г. Москва, Каширское шоссе, 31. Единая справочная НИЯУ МИФИ 8-495-788-56-99  
}