Кафедра микро- и наноэлектроники приняла активное участие в работе международной конференции по радиационной стойкости электронных приборов и систем RADECS-2015, которая является одной из крупнейших международных научно-технических конференций в области контроля и обеспечения стойкости ЭКБ и РЭА к внешним воздействующим факторам. В этом году конференция впервые в истории прошла в России.

В конференции приняли участие специалисты Роскосмоса, ОАО «ОРКК», Минпромторга России, ГК «Росатом», РАН, Минобрнауки России, Минобороны России и их подведомственных предприятий, а также передовых предприятий России, стран СНГ и зарубежья.

Сотрудники кафедры микро- и наноэлектроники НИЯУ МИФИ выступили с шестью докладами, из который 5 стендовых и 1 устный. 

Источник: mephi.ru